"DEFECTS IN AMORPHOUS SILICON PROBED BY SUBPICOSECOND PHOTOCARRIER DYNAMICS" Appl. Phys. Lett. 60, 1688 (1992).
CALCAGNILE, Lucio;
1992-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.